GRÁFICO DE CONTROL 'C'

En algunos procesos interesa medir la cantidad de defectos que presentan las unidades de producto que se están fabricando. Los defectos pueden ser de diferentes tipos y se cuenta el total de todos estos defectos en la unidad inspeccionada que en este caso es la calidad de producto de semiconductores. A continuación se muestra una gráfica de control C elaborada a mano con algunas NELSON RULES;

para que se entienda mejor;

NELSON RULE 3; six (or more) points in a row are continually (or decreasing)

NELSON RULE 5; two (or trhee) out of trhee points in a row are more than 2 standard deviations from mean in the saame direction.